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IEC 60747-16-4 AMD 1-2009 半导体装置.第16-4部分:微波集成电路.开关.修改件1

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 00:50:38  浏览:8383   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part16-4:Microwaveintegratedcircuits-Switches;Amendment1
【原文标准名称】:半导体装置.第16-4部分:微波集成电路.开关.修改件1
【标准号】:IEC60747-16-4AMD1-2009
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2009-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:基本术语;定义;尺寸选定;电气工程;电子工程;电子设备及元件;功能;职能;集成电路工艺;集成电路;极限(数学);测量;测量技术;微电子学;微波电路;参数;半导体器件;半导体存储器;半导体;开关电路
【英文主题词】:Basicterms;Definition;Definitions;Dimensioning;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Functions;Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microwavecircuits;Parameters;Semiconductordevices;Semiconductormemory;Semiconductors;Switchingcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L22
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:6P;A4
【正文语种】:英语


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Product Code:SAE AS85049/90
Title:Connector Accessories, Electrical, Backshell, 90掳, Self-Locking, Shield Band Termination (RFI/EMI), Shrink Sleeve Accommodation, Category 3B (For MIL-DTL-38999 Series III and IV Connectors)
Issuing Committee:Ae-8c1 Connectors Committee
Scope:Scope unavailable.【英文标准名称】:Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults--Part3:Intermediatemeasuresoftheprecisionofastandardmeasurementmethod
【原文标准名称】:测量方法和测量结果的精确性.第3部分:标准测量方法的精确度的间歇性测量
【标准号】:JISZ8402-3-1999
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1999-05-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonBasicEngineering
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:再现性;测量;精密度;基准面;准确度
【英文主题词】:measurement;datum;precision;accuracy;reproducibility
【摘要】:この規格のこの部は,一つの試験室内で測定の条件(時間,校正,オペレータ,及び装匿)が変わることによる4つの中間綱度について詳細を述べる。
【中国标准分类号】:A20
【国际标准分类号】:03_120_30;17_020
【页数】:40P;A4
【正文语种】:日语



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