ASTM F 584-2006 半导体引线连接线的外观检查用标准实施规范

作者:标准资料网时间:2024-04-28 17:59:30 浏览:9861 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardPracticeforVisualInspectionofSemiconductorLead-BondingWire
【原文标准名称】:半导体引线连接线的外观检查用标准实施规范
【标准号】:ASTMF584-2006
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:粘附;电子工程;铅;半导体;试验;外观检查(试验);金属线
【英文主题词】:Adhesion;Electronicengineering;Lead;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing);Wires
【摘要】:
【中国标准分类号】:K12
【国际标准分类号】:29_060_10
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语

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标准名称：	皮革物理和机械试验粒面强度和伸展高度的测定：球形崩裂试验
英文名称：	Leather -- Physical and mechanical tests -- Determination of distension and strength of grain -- Ball burst test
中标分类：	轻工、文化与生活用品 >> 皮革加工与制品 >> 皮革加工与制品综合
ICS分类：	纺织和皮革技术 >> 皮革技术
替代情况：	QB/T 3812.7-1999(原标准号GB 4689.7-1984)
发布部门：	中华人民共和国国家发展和改革委员会
发布日期：	2005-03-19
实施日期：	2005-09-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
提出单位：	中国轻工业联合会
归口单位：	全国皮革工业标准化技术委员会
起草单位：	中国皮革和制鞋工业研究院
起草人：	赵立国
出版社：	中国轻工业出版社
出版日期：	2005-09-01
页数：	6页
书号：	155019.2760